ANÁLISE

Microscópio óptico

Avaliação da qualidade da superfície das amostras

Estação de pontas

Caracterização DC de diodos

Perfilômetro espacial

Determinação de taxas de crescimento e de corrosão

Difratômetro de raios-X

Determinação do parâmetro de rede, da qualidade cristalina, da composição das diferentes ligas e da tensão decorrente de um descasamento no parâmetro de rede

Efeito Hall a 77 K e 300 K

Determinação da concentração de portadores livres de corrente e da sua mobilidade

Perfilômetro de capacitância vs voltagem

Determinação da concentração líquida de carga na amostra e do perfil em profundidade de dopagem

Fotoluminescência convencional, absorção e fotocorrente

Estudo das propriedades ópticas e optoeletrônicas entre 4,2 K e 300 K

Fotoluminescência resolvida espacialmente

Micromapeamento a 300 K com spot de excitação inferior a 2 µm

Espectrometro de Fourier

Medidas de transmissão e absorbância entre 1,3 µm e 200 µm

Campo próximo

Caracterização de guias de onda